KIP-Veröffentlichungen

In dieser Arbeit geht es um das Testen und Vermessen des Multi-Compartment Chips (entwickelt und designed von Sebastian Millner und Andreas Hartel). Er wurde entwickelt und produziert, um die von S. Millner, während seiner Dissertation, entwickelte Multi-Compartment Emulation zu überprüfen und zu bestätigen. Da an diesem Chip seit seiner Entwicklung noch keine quantitativen Messungen gemacht wurden und die Software zur Ansteuerung der Hardware neu angesetzt wurde, musste zuerst sichergestellt werden, dass die, von A. Hartel geschriebene und angepasste Software, zuverlässig funktioniert. Aufbauend darauf, sollten Experimente folgen, welche die neu implementierten Schaltungen charakterisieren und verdeutlichen sollen. Man muss ganz klar darauf hinweisen, dass es bei dieser Arbeit sehr viel um das Testen ging, was für die eventuelle spätere Verwendung, unter Umständen im Wafer Scale System, von Nöten ist. Denn dies sollte über kurz oder lang das Ziel sein, wofür diese Arbeit ein erster Grundstein darstellt.

This thesis presents the results of testing the software and measuring of the Multi-Compartment chip (developed and designed by Sebastian Millner and Andreas Hartel). It was developed and produced, to verify the Multi-Compartment emulation, which was developed by S. Millner in his PhD thesis. Since the completion of the chip, there are no quantitative measurements done. So first, it was necessary to ensure, that the software for activation, written and adapt by A. Hartel, works. Based on experiments should follow, that characterize and explain the new implemented circuits. It must be clear that testing was the main task in this thesis. The aim of the work of these and other should be, to use this circuits, possibly at the Wafer Scale System.