KIP-Veröffentlichungen

Jahr	1999
Autor(en)	Martin Hansmann
Titel	Rastertunnelmikroskopie an Schichtstruktur-Halbleitern -Untersuchung von Oberflächendefekten auf Wolframdiselenid
KIP-Nummer	HD-KIP 99-29
KIP-Gruppe(n)	F3
Dokumentart	Diplomarbeit

Service

KIP - Bibliothek
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