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Die Untersuchung der Eigenschaften von Antimaterie mit Instrumenten der Atomoptik ist Gegenstand aktueller Forschung. Diese Arbeit beschreibt Messungen mit Antiprotonen durch ein sogenanntes Moiré Deflektometer bestehend aus drei Gittern und einem ortsauflösenden Detektor. Diese Konfiguration erlaubt die Erzeugung makroskopischer Streifenmuster, was deren Detektion erleichtert. Nahfeld-Interferometrie mit Laserlicht erlaubt dabei die kontinuierliche Überprüfung der Ausrichtung des Deflektometers. Obwohl sich das hier benutzte Instrument mit klassischen Antiprotonenbahnen beschreiben lässt, geben die Messungen Einblick in die Voraussetzungen für mögliche Antiprotoneninterferometrie. Dazu gehört die Detektion des Streifenmusters, das Abbremsen der Antiprotonen, der Einfluss magnetischer Streufelder und die mechanische Stabilität des Messapparates.

The measurement of antimatter properties with atom optical tools is subject to vivid research. This thesis describes measurements of antiprotons performed with a device called moiré deflectometer with three gratings and a spatially resolving detector. This configuration allows the generation of macroscopic fringe patterns, which simplifies the detection. The deflectometer's alignment is continuously monitored with near-field laser interferometry. Even though the device utilized here can be described with classical antiproton trajectories, the measurements give important experimental insights into requirements for future antiproton interferometry, such as the fringe pattern's detection scheme, antiproton deceleration, magnetic stray fields and the setup's mechanical stability.