KIP-Veröffentlichungen

Bei der Dunkelfeldmikroskopie werden spezielle optische Elemente benutzt, um zu vermeiden, dass das Licht der Lichtquelle direkt das Objektiv erreicht. Stattdessen wird nur das von der Probe gestreute Licht vom Objektiv eingefangen. Dies erzeugt einen dunklen, fast schwarzen Hintergrund, vor dem die streuenden Strukturen der beobachteten Probe hell leuchtend sichtbar sind. Dadurch können auch sehr kleine Strukturen nachgewiesen werden, die mit ihrer Größe unter dem Beugungslimit liegen. Dunkelfeldmikroskopie kann auch dazu verwendet werden, spektroskopische Untersuchungen an solch kleinen Partikeln durchzuführen, was sie für die Nanotechnologie besonders interessant macht. Im Zentrum dieser Arbeit war der Aufbau eines solchen Mikroskops, und erste Messungen zur Kalibrierung des Aufbaus werden in dieser Arbeit vorgestellt.

Dark field microscopes allow only scattered light to enter the objective. This means, that only very little direct light from the source makes it into the resulting image, creating a dark, almost black background behind the brightly lit scattering features of the sample under the microscope. Due to direct light from the light source being almost completely excluded in the final image, dark field spectroscopy is ideal to make extremely small structures well visible. It can be used to make individual particles only a few hundred nanometers in diameter visible via optical microscopy, and even allows for spectroscopy on a single particle. The setup of a dark field microscope, as well as its calibration and first measurements, were at the center of this thesis. The function of a dark field microscope will be explained, and the experimental results will be shown.