KIP-Veröffentlichungen

Jahr	2002
Autor(en)	Stefan Diez
Titel	Untersuchung ultradünner Kupferfilme auf Silizium(111) mittels Infrarot-Spektroskopie, statischer Widerstandsmessung und Adsorbaten
KIP-Nummer	HD-KIP 02-15
KIP-Gruppe(n)	F6
Dokumentart	Diplomarbeit

Service

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